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利来国际备用混合信号模数转换CMOS集成电路设计


更新时间:2018-09-14 21:44:52

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资源简介

 本书以混合信号ADC CMOS芯片设计为主线,由概论、模数转换器算法和实现架构、带隙参考电压源、偏置电路和镜像电流源、运算跨导放大器、比较器电路、放大器失调和斩波技术、采样和MDAC电路、CMOS工艺技术与版图设计共9章组成具有以下特点: 基础知识和理论围绕ADC设计展开,更系统全面; 电路结构和设计围绕ADC设计的要求展开,详细解释ADC设计参数之间的关系,并给出了严谨的理论推导。 本书可作为高等学校电子信息专业和集成电路专业“高级模拟电路设计”课程的教材,也可以供从事数模转换、模拟集成电路设计工作的工程技术人员参考。

 

内容简介

  本书以混合信号ADC CMOS芯片设计为主线,由概论、模数转换器算法和实现架构、带隙参考电压源、偏置电路和镜像电流源、运算跨导放大器、比较器电路、放大器失调和斩波技术、采样和MDAC电路、CMOS工艺技术与版图设计共9章组成具有以下特点: 基础知识和理论围绕ADC设计展开,更系统全面; 电路结构和设计围绕ADC设计的要求展开,详细解释ADC设计参数之间的关系,并给出了严谨的理论推导。 本书可作为高等学校电子信息专业和集成电路专业“高级模拟电路设计”课程的教材,也可以供从事数模转换、模拟集成电路设计工作的工程技术人员参考。

目录

第1章概论 
1.1ADC设计概述 
1.2集成电路设计工具 
1.3ADC集成电路设计流程 
1.4关于本书 
参考文献 
第2章模数转换器算法和实现架构 
2.1ADC算法 
2.2ADC的实现架构 
2.2.1品质指标 
2.2.2SigmaDelta架构 
2.2.3逐次逼近架构 
2.2.4流水线架构 
2.3主要性能指标 
2.3.1分辨率 
2.3.2DNL/INL非线性 
2.3.3偏移误差与增益误差 
2.3.4信噪比 
2.3.5SINAD/THD/SFDR谐波失真 
2.3.6ENOB有效位数 
2.4速度、精度和功耗 
2.5本章小结 
参考文献 
第3章带隙参考电压源 
3.1负温度系数的电压基准 
3.2正温度系数的电压基准 
3.3带隙基准和带隙电压 
3.4带隙电压的温度系数 
3.5带隙电压电路 
3.5.1工艺参数的提取 
3.5.2失调电压的影响 
3.5.3自动调零放大器原理 
3.6本章小结 
习题 
参考文献 
第4章偏置电路和镜像电流源 
4.1偏置的基本概念 
4.1.1特性曲线和工作区域 
4.1.2和偏置相关的参数 
4.1.3电路实现 
4.2镜像电流源 
4.2.1镜像电流源 
4.2.2级联镜像电流源 
4.2.3宽摆幅级联镜像电流源 
4.2.4Sooch级联镜像电流源 
4.2.5低压偏置电路设计 
4.2.6串联MOS管 
4.3抗电源电压干扰 
4.3.1电源敏感度和抑制比 
4.3.2Widlar电流源 
4.3.3自偏置电路 
4.4放大器偏置电路设计 
4.5本章小结 
参考文献 
第5章运算跨导放大器 
5.1放大器架构 
5.1.1差分运算放大器 
5.1.2共源共栅级联放大器 
5.1.3折叠共源共栅级联放大器 
5.2共模反馈电路 
5.2.1共模反馈原理 
5.2.2开关电容CMFB电路 
5.2.3电路设计与实现 
5.3放大器的频率响应 
5.3.1复频率域电路分析 
5.3.2主极点和单位增益带宽 
5.3.3放大器反馈电路 
5.3.4单级放大器 
5.3.5共源共栅放大器 
5.4增益加强型共源共栅放大器 
5.4.1小信号模型分析 
5.4.2零极点分析 
5.4.3建立时间分析 
5.5放大器设计及优化 
5.5.1设计指标 
5.5.2整体结构 
5.5.3参数优化 
5.5.4电路设计和仿真 
5.6本章小结 
参考文献 
第6章比较器电路 
6.1简介 
6.2基本指标 
6.3比较器结构 
6.3.1连续时间比较电路 
6.3.2离散时间比较电路 
6.3.3锁存型比较器 
6.3.4斩波逆变型比较器 
6.4提高精度的技术 
6.4.1输入失调电压 
6.4.2具体电路失调分析 
6.4.3模拟消除技术 
6.4.4数字补偿技术 
6.5比较速度分析 
6.6设计实例 
6.6.1确立电路结构 
6.6.2设计各CMOS管尺寸 
6.6.3仿真 
6.7本章小结 
习题 
参考文献 
第7章放大器失调和斩波技术 
7.1实际与理想运放的差异 
7.2双极型差分对输入失调电压 
7.3MOS型差分对输入失调电压 
7.3.1电阻负载 
7.3.2有源负载 
7.3.3系统失调电压 
7.4斩波技术和斩波放大器 
7.4.1斩波放大器原理 
7.4.2残余失调电压 
7.4.3MOS开关的非理想效应 
7.4.4实例分析 
7.5本章小结 
参考文献 
第8章采样和MDAC电路 
8.1采样基本概念 
8.2开关电容采样保持电路 
8.2.1翻转型架构 
8.2.2电荷传输型架构 
8.2.3具体实现电路 
8.3主要误差分析 
8.3.1放大器有限增益误差 
8.3.2采样时间误差 
8.3.3开关电阻非线性 
8.3.4电荷注入误差 
8.3.5时钟馈通效应 
8.3.6热噪声 
8.4MDAC电路 
8.4.1实现电路 
8.4.2数字误差校正 
8.4.31.5位MDAC电路 
8.5本章小结 
参考文献 
第9章CMOS工艺技术与版图设计 
9.1主要工艺流程 
9.2集成电路版图 
9.3无源器件 
9.3.1N+、P+、N阱电阻 
9.3.2多晶硅电阻 
9.3.3电阻的性能比较 
9.3.4电容 
9.4闩锁效应及版图布局 
9.5ESD保护及版图布局 
9.6本章小结 
参考文献 

 

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