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利来网站扫描电子显微学及在纳米技术中的应用


更新时间:2018-09-14 22:15:37

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资源简介

  《扫描电子显微学及在纳米技术中的应用》的特点是各个章节都是由本领域里世界级资深的研究组所撰写。其他贡献者则是来自这些技术和设备的国际知名供应商中的技术应用专家。

 

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  《扫描电子显微学及在纳米技术中的应用》的特点是各个章节都是由本领域里世界级资深的研究组所撰写。其他贡献者则是来自这些技术和设备的国际知名供应商中的技术应用专家。《扫描电子显微学及在纳米技术中的应用》不仅可供纳米材料研究者使用,同时也是一本面向高校师生和扫描电子显微镜工作者的教材和参考书。

内容简介

  在过去的10年中,纳米技术的飞速发展使得扫描电子显微镜成为了一种分析和构建新纳米材料、结构和器件不可缺少的有力的工具。新纳米材料的发现需要通过先进的分析技术和技能来获取高质量的图片,从而帮助我们理解纳米结构,以达到改进合成方法和提高性能的目的。例如场发射枪、背散射电子的探测、X射线元素的图像化等,已经很大程度地提高了扫描电子显微镜在纳米材料分析中的应用。除了分析功能之外,扫描电子显微镜可以与新发展起来的测控技术相结合,实行原位纳米器件的加工、制造和性能表征。这些技术包括纳米材料的操控、电子刻蚀、聚焦离子束微加工等。虽然这些技术仍在发展之中,但它们已开始广泛应用于纳米研究的各个领域。

作者简介

  周维列,博士,1993年毕业于中国科学院物理研究所。1994一1997年先后在日本精密陶瓷材料研究所(JFCC)和美国凯斯西部保留大学(CWRU)从事电子显微学博士后研究。1998年至今任美国新奥尔良大学(LJNO)先端材料研究所(AMRI)电镜室主任。从事电子显微镜在材料中的应用近20年,获美国自然科学基金(NSF)和美国国防部先端研究项目(DARPA)等多项资助。现为美国电子显微学会和材料学会会员。
王中林博士,美国佐治亚理工学院(Georgia Institute of TechnoIogy)终身教授、校董事讲席教授(Regents’Professor)、纳米结构表征和器件制造中心主任,中国国家纳米科学中心海外主任,美国物理学会资深会员(Fellow)。荣获美国显微镜学会1999年巴顿奖章,佐治亚理工学院2000年和2005年杰出研究奖,2005年Sigma Xi学会持续研究奖,2001年S.T.Li奖金(美国化学学会),美国自然科学基金会CAREER基金。他是1992——2002年10年中纳米科技论文引用次数世界个人排名前25位作者之一,其学术论文已被引用10000次以上。

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